Skip to Content
STAX
Toggle navigation
STAX
Iniciar sesión
Inicio
Acerca de
Ayuda
Contacto
Buscar en STAX
Ir
Buscar
Borrar filtros
Filtrado por:
Creador
Riise, Jonathan
Eliminar la restricciónCreador: Riise, Jonathan
Fecha
2020
Eliminar la restricciónFecha: 2020
1
entrada encontrado
Ordenar por relevance
relevance
date uploaded ▼
date uploaded ▲
date modified ▼
date modified ▲
El número de resultados a mostrar por página
10 por página
10
por página
20
por página
50
por página
100
por página
Ver Resultados por:
Lista
Gallery
Slideshow
Resultados de la búsqueda
Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
Creador:
Riise, Jonathan
Fecha:
2020
Department, School or Faculty:
Centre for Ultrasonic Engineering and Department of Electronic and Electrical Engineering
Toggle facets
Limite su búsqueda
Tipo
Thesis
1
Tipo de recurso
Doctoral thesis
1
Creador
Riise, Jonathan
[remove]
1
Contribuyente
Gachagan, Tony
1
Pierce, Gareth
1
Departamento, Escuela o Facultad
Centre for Ultrasonic Engineering
1
Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Fecha
2020
[remove]
1