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Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
Creador:
Riise, Jonathan
Fecha:
2020
Department, School or Faculty:
Centre for Ultrasonic Engineering and Department of Electronic and Electrical Engineering
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Tipo
Thesis
1
Tipo de recurso
Doctoral thesis
1
Creador
Riise, Jonathan
1
Contribuyente
Gachagan, Tony
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1
Pierce, Gareth
1
Departamento, Escuela o Facultad
Centre for Ultrasonic Engineering
1
Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Fecha
2020
1