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2020
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Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
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genere
Thesis
1
Tipo di risorsa
Doctoral thesis
1
Creatore
Riise, Jonathan
1
Collaboratore
Gachagan, Tony
1
Pierce, Gareth
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1
Dipartimento, Scuola o Facoltà
Centre for Ultrasonic Engineering
1
Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Data
2020
[remove]
1