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Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
O Criador:
Riise, Jonathan
Encontro:
2020
Department, School or Faculty:
Centre for Ultrasonic Engineering and Department of Electronic and Electrical Engineering
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Tipo
Thesis
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Tipo de recurso
Doctoral thesis
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O Criador
Riise, Jonathan
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Contribuinte
Gachagan, Tony
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Pierce, Gareth
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Departamento, escola ou faculdade
Centre for Ultrasonic Engineering
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Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Encontro
2020
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