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Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
Schöpfer:
Riise, Jonathan
Datum:
2020
Department, School or Faculty:
Centre for Ultrasonic Engineering and Department of Electronic and Electrical Engineering
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Art
Thesis
1
Ressourcentyp
Doctoral thesis
1
Schöpfer
Riise, Jonathan
[remove]
1
Mitwirkender
Gachagan, Tony
1
Pierce, Gareth
1
Abteilung, Schule oder Fakultät
Centre for Ultrasonic Engineering
1
Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Datum
2020
1