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Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
Creatore:
Riise, Jonathan
Data:
2020
Department, School or Faculty:
Centre for Ultrasonic Engineering and Department of Electronic and Electrical Engineering
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genere
Thesis
1
Tipo di risorsa
Doctoral thesis
1
Creatore
Riise, Jonathan
[remove]
1
Collaboratore
Gachagan, Tony
1
Pierce, Gareth
1
Dipartimento, Scuola o Facoltà
Centre for Ultrasonic Engineering
1
Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Data
2020
1