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Multi-scale metrology for automated non-destructive testing systems
O Criador:
Riise, Jonathan
Encontro:
2020
Department, School or Faculty:
Centre for Ultrasonic Engineering and Department of Electronic and Electrical Engineering
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Tipo
Thesis
1
Tipo de recurso
Doctoral thesis
1
O Criador
Riise, Jonathan
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1
Contribuinte
Gachagan, Tony
1
Pierce, Gareth
1
Departamento, escola ou faculdade
Centre for Ultrasonic Engineering
1
Department of Electronic and Electrical Engineering
1
Encontro
2020
1