PDF of thesis T13328 Öffentlich

Dateidetails

Hochlade-Datum
Letztes Änderungsdatum
2021-07-09
Beständigkeit überprüfen
Fixity checks have not yet been run on this object
Charakterisierung
File Format: pdf (Portable Document Format)
File Title: ELECTRON CHANNELLING CONTRAST IMAGING OF NITRIDE SEMICONDUCTOR THIN FILMS
Page Count: 164
File Size: 4474025
Original Checksum: 5a8133579aee6530ea7912b5308a822b
Mime Type: application/pdf